Técnicas aceleradas prácticas y utillajes

Ponencia de seminario (1995) sobre ensayos acelerados y utillajes en la práctica: la mayoría de los fallos electrónicos se deben a defectos de diseño o de fabricación, no al desgaste. Muestra cómo la investigación de la causa raíz sustituye a los ensayos según especificación.